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2000V/2000A雙脈沖測試功率器件動態(tài)系統(tǒng)的簡單介紹是一款專用于MOSFET、IGBT、SiCMOS等器件的動態(tài)參數(shù)測試,能夠安全便捷的測試功率器件的開關(guān)延時和損耗,評估器件的安全工作區(qū),對器件和驅(qū)動電路2000V/2000A雙脈沖測試功率器件動態(tài)系統(tǒng)的詳細(xì)信息2000V/2000A雙脈沖測試功率器件動態(tài)系統(tǒng)概述 PMDT功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)是一款專用于MOSFET、IGBT、SiC MOS等器件的動態(tài)參數(shù)測試,能夠安全便捷的測試功率器件的開關(guān)延時和損耗,評估器件的安全工作區(qū),對器件和驅(qū)動電路的短路保護(hù)特性進(jìn)行驗證,測量功率組件的雜散電感。設(shè)備既可以用于功率器件選型評估,又可以用于驅(qū)動電路和功率母排的優(yōu)化設(shè)計,能夠幫助用戶開發(fā)性能更優(yōu)化、工作更可靠的電力電子功率平臺。 系統(tǒng)組成 PMDT功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)主要由雙脈沖信號發(fā)生器,高分辨率示波器,高壓電流探頭,高壓電源、母線電容、低雜感母排、自動化測試軟件以及配套測試工裝組成。系統(tǒng)配備多種測試驅(qū)動板,可覆蓋開關(guān)參數(shù)測試、柵極電荷測試、短路測試、雪崩測試等,單次測試即可完成開關(guān)特性及反向恢復(fù)特性測試;具備數(shù)據(jù)管理功能,可實時保存測試結(jié)果及波形曲線,自動生成測試報告 高電壓達(dá)2000V(最大擴(kuò)展至8kV) 大電流達(dá)2000A(可擴(kuò)展至6000A) 低寄生電感設(shè)計:<20nH寄生電感 安全防護(hù)機(jī)制:集成防爆、過流/過壓保護(hù) 全功能測試覆蓋:支持DPT、RBSOA、 SCSOA、Qg等參數(shù) 自動化與智能化,負(fù)載電感自動切換 溫度范圍廣:可選高溫模塊(常溫-200℃)或熱流儀(-40℃-200℃) 兼容多種封裝,可根據(jù)測試需求定制夾具 測試參數(shù) 開通特性:開通延時時間td(on)、開通上升時間tr、開通時間ton、開通能量損耗E(on)、開通電壓斜率dv/dt、開通電流斜率di/dt、Id vs.t、Vds vs.t、Vgs vs.t、Ig vs.t 關(guān)斷特性:關(guān)斷延時時間td(off)、關(guān)斷上升時間tf、關(guān)斷時間toff、關(guān)斷能量損耗E(off)、關(guān)斷電壓斜率dv/dt、 關(guān)斷電流斜率di/dt、Id vs. t、Vds vs. t、Vgs vs. t、Ig vs.t 反向恢復(fù)特性:反向恢復(fù)時間trr、反向恢復(fù)電荷Qrr、反向恢復(fù)能量Err、最大反向恢復(fù)電流Irrm、反向恢復(fù)電壓斜率dv/dt、反向恢復(fù)電流斜率di/dt、反向恢復(fù)電流特性Id vs.t 短路特性:短路時間Tsc、短路飽和電流Iscsat、Vce尖峰 VCEmax、短路能量Esc、短路功率Psc 柵極電荷:總柵極電荷Qg、閾值柵極電荷Qgs(th)、柵源電荷Qgs、柵漏電荷Qgd、柵極申荷曲線Vgs vs.t 反偏安全工作區(qū):關(guān)斷電壓尖峰VCE—peak、關(guān)斷電流尖峰lc、Vce vs.t、lc vs.t 針對市面上不同封裝類型的功率半導(dǎo)體,如IGBT、SiC、MOS等產(chǎn)品,普賽斯提供整套測試夾具解決方案,可用于T0單管,半橋模組等產(chǎn)品的測試 以上是2000V/2000A雙脈沖測試功率器件動態(tài)系統(tǒng)的詳細(xì)信息,如果您對2000V/2000A雙脈沖測試功率器件動態(tài)系統(tǒng)的價格、廠家、型號、圖片有任何疑問,請聯(lián)系我們獲取2000V/2000A雙脈沖測試功率器件動態(tài)系統(tǒng)的最新信息 |
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